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雙束掃描電子顯微鏡(含能譜儀、背散射電子衍射儀、FIB)
2010/12/23瀏覽(2993

         

儀器名稱:雙束掃描電子顯微鏡(含能譜儀、背散射電子衍射儀、FIB

主要參數(shù):二次電子像分辨率1.2nm30kV),最大放大倍數(shù)300,000×

主要功能:微區(qū)形貌觀察、材料斷口形貌及失效分析、微區(qū)成分定性/定量分析、聚焦離子束顯微加工、變溫過程組織原位觀察

 
 
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