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金相分析及結(jié)構(gòu)表征 | ||
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1.1 JEOL場發(fā)射掃描電子顯微鏡
儀器名稱:JEOL場發(fā)射掃描電子顯微鏡(含能譜儀、波譜儀、背散射電子衍射儀) 主要參數(shù):二次電子像分辨率1.2nm(30kV),最大放大倍數(shù)300,000× 主要功能:微區(qū)形貌觀察、材料斷口形貌及失效分析、微區(qū)成分定性/定量分析
1.2 Zeiss場發(fā)射掃描電子顯微鏡
儀器名稱:Zeiss場發(fā)射掃描電子顯微鏡(含能譜儀、Feature夾雜物自動統(tǒng)計(jì)軟件) 主要參數(shù):二次電子像分辨率1.3nm(20kV),最大放大倍數(shù)1,000,000× 主要功能:夾雜物自動統(tǒng)計(jì)、微區(qū)形貌觀察、材料斷口形貌及失效分析、微區(qū)成分定性/定量分析
1.3 全自動夾雜物分析系統(tǒng)
儀器型號:Explorer 4 (FEI) 主要參數(shù):CeB6燈絲,最小夾雜物分析尺寸500nm 主要功能:可以進(jìn)行樣品中500nm以上的夾雜物、顆粒等全自動統(tǒng)計(jì)分析。
1.4 EVO18鎢燈絲掃描電子顯微鏡
儀器名稱:EVO18鎢燈絲掃描電子顯微鏡(含能譜儀) 主要參數(shù):二次電子像分辨率3.0nm(30kV),放大倍數(shù)~100,000× 主要功能:微區(qū)形貌觀察、材料斷口形貌及失效分析、微區(qū)成分定性/定量分析
1.5 透射電子顯微鏡
儀器名稱:場發(fā)射透射電子顯微鏡(含能譜儀) 主要參數(shù):點(diǎn)分辨率0.19nm(200kV),線分辨率0.102nm(200kV),最大放大倍數(shù)50~1,500,000× 主要功能:顯微組織形貌及分布、材料中缺陷結(jié)構(gòu)、相鑒定、晶粒取向、微區(qū)成分定性/定量分析
1.6 電子探針
儀器名稱:掃描電子探針顯微鏡(含能譜儀) 主要參數(shù):分析元素范圍Be4 - U92,二次電子像分辨率5nm 主要功能:微區(qū)成分定性/定量分析、元素化學(xué)狀態(tài)分析、表面顯微結(jié)構(gòu)觀察
1.7 X射線衍射儀
儀器名稱:X射線衍射儀 主要參數(shù):最大輸出功率18kW,2q角測量范圍0.5°~145°,測試溫度范圍RT~1500℃ 主要功能:物相定性/半定量分析、晶格常數(shù)測定、晶粒尺寸測定、織構(gòu)及晶體取向分析、殘余應(yīng)力分析、高溫衍射實(shí)驗(yàn)
1.8 蔡司金相顯微鏡
儀器名稱:蔡司金相顯微鏡 主要參數(shù):標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)50~1000×,CCD攝像頭1200萬像素 主要功能:組織觀察、晶粒度評定、非金屬夾雜物分析、多相分析
1.9 高溫激光掃描共聚焦顯微鏡
儀器名稱:高溫激光掃描共聚焦顯微鏡 主要參數(shù):分辨率1.27μm (TOS 5× NA: 0.16), 1.88μm (TOS 10× NA: 0.23), 0.58μm (TOS 20× NA: 0.35), 0.51μm (TOS 5× NA: 0.51) 溫度范圍50 ~ 1700℃ 主要功能:樣品加熱原位觀察、3D表面測量
1.10 真色彩掃描共聚焦顯微鏡
儀器名稱:真色彩掃描共聚焦顯微鏡 主要參數(shù):分辨率0.18μm (100×, NA: 0.95, 藍(lán)色單色圖像) 主要功能:表面粗糙度分析、組織觀察、表面形貌分析 |