金相&電鏡測試項(xiàng)目 | 檢測設(shè)備 | 檢測項(xiàng)目 | 常規(guī)檢測標(biāo)準(zhǔn) | | 金相顯微鏡 | 非金屬夾雜物 | GB/T 10561-2005 | | 顯微組織 | GB/T 13298-2015 GB/T 13299-1991 | | 晶粒度 | GB/T 6394-2017 | | 脫碳層深度 | GB/T 224-2018 | | X射線衍射分析儀 | 物相定性分析 | JY/T 009-1996 | | 物相半定量分析 | JY/T 009-1996 | | 殘余奧氏體含量測定 | YB/T 5338-2006 | | 織構(gòu)測定 | / | | 結(jié)晶度測定 | / | | 掃描電鏡（含能譜儀、EBSD）電子探針（含能譜儀） | 形貌組織 | JY/T 010-1996 | | 微區(qū)定量分析 | GB/T 15616-2008 GB/T 17359-2012 | | EBSD | GB/T 19501-2013 | | 透射電鏡（含能譜儀） | 低倍形貌觀察（低于30萬倍） | JY/T 011-1996 | | 高分辨觀察 | JY/T 011-1996 | | 晶體結(jié)構(gòu)、取向測試 | JY/T 011-1996 | | EDS掃描 | / | | 其他項(xiàng)目：金屬材料的失效分析、低倍檢驗(yàn)及其他微觀性能表征等 |
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